商品介紹

X射線分析顯微鏡 (Micro-XRF)
X-ray Analytical Microscope (Micro-XRF)

顯微X射線螢光光譜的下一步發展 速度和靈活性的終極表現

• <15µm探頭尺寸，具有超高強度，不會影響靈敏度或空間分辨率
• 高分辨率相機和多種照明模式有助於捕捉圖像。
• 用於透射和熒光 X 射線的雙重類型檢測器
• 使用輕元素檢測器可檢測元素範圍低至碳

最小光徑10um
高感度SDD偵測器(免液態氮)
mapping元素分佈
mapping定量分析

 

測量參數：元素定性、元素定量、元素分佈圖、X光穿透影像
應用領域：電子電機產業、玩具業、地質檢測、合金成分檢測、古文物分析、刑事鑑定、環境汙染、雜質分析

儀器特點：

• 高強度聚光導管
• 高感度免液氮SDD偵測器
• 友善的使用介面
• 高解析元素面積掃描，可做micro等級微區域元素分布掃描
• 可進行面積元素定量
• 內建穿透X光偵測器，可同時顯示X光穿透影像

 

激發系統Excitation system
XGT-9000 憑藉其精心設計的激發系統提供終極的性能和靈活性。 X射線產生器具有高達50 kV和 1000 µA的高輸出。 此外，初級X射線可以通過我們廣泛選擇的探頭尺寸（10 microns – 1.2 mm）進行照射。 這包括超高強度探頭來達到快速的測量速度。

光學影像Optical images
擷取清晰的影像對於微型XRF來說是至關重要的。XGT-9000提供高分辨率相機來捕捉整個樣品的圖像及其細節到微觀水平。 多種照明模式有助於觀察清晰的圖像，即使對於反射和透明樣品也是如此。

樣品腔室Sample chamber
XGT-9000可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶片。可提供各種樣品架。 此外，最多可選擇4種測量環境以提高靈敏度。

 

探測器Detectors
XGT-9000提供透射X射線檢測器和螢光 X射線檢測器。 透射X射線檢測器使用戶能夠檢測樣品的內部缺陷和異物。螢光X射線檢測器可以檢測從鋂Am到碳C，具有輕元素檢測器。

 

軟體套件Software suite
XGT-9000軟件當然涵蓋了單點分析、多點分析、線分析、Map成像等所有基本測量。 除了標準的軟件功能外，還可以在軟件套件中添加高級模塊，以提供更全面的用戶體驗。

• 多層FPM模組(Multilayer FPM)：用於具/不具標準的厚度測量
• RoHS模組(RoHS module)：用於RoHS篩選
• 陣列模組(Queue module)：用於無人值守模式下的自動多次測量
• 顆粒查找模組(Particle Finding module)：用於粒子分析和共定位分析
• LabSpec Link模組(LabSpec Link module)：用於將數據傳輸到LabSpec 6以進行多變量分析

範例圖片：

 非破壞檢測:黑色油墨                                               指紋影像提取

GSR射擊殘跡分析                                         非破壞檢測:文物分析

寶石分析